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黄河书库 -聚合物表面分析(X射线光电子谱和静态次级离子质谱)

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聚合物表面分析(X射线光电子谱和静态次级离子质谱)书籍详细信息

  • ISBN：9787502533977
  • 作者：暂无作者
  • 出版社：暂无出版社
  • 出版时间：2001-11
  • 页数：197 页
  • 价格：14.90
  • 纸张：暂无纸张
  • 装帧：平装
  • 开本：暂无开本
  • 语言：未知
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内容简介：

本书深入论述了X射线光电子谱（XPS）和静态次级离子质谱（SSIMS）及其在聚合物材料研究中的应用。在聚合物表面的结构分析与特性研究，特别是解决工业研究中有关问题时，XPS和SSIMS普遍被认为是强有力的技术。随着过去十年仪器分析能力和数据阐释方面的飞速发展，该领域已经发展到有可能将这两方面的信息合并起来的阶段。本书中，作者叙述了XPS和SSIMS技术，并就各自可获得的住处类型分别作了解释。本书也包含实际研究细节，强调了在聚合物表面结构研究中，XPS和SSIMS的信息互与联合作用，及其同材料性质的关联。对那些有志于聚合物表面和表面分析科学工作者、工业研究人员，本书是很有考参价值的。

书籍目录：

第一章 引言

1．1 聚合物表面的重要性

1．2 聚合物表面和体相的差异

1．3 添加剂和污染物的影响

1．4 聚合物表面预处理及改性

1．5 与表面特性有关的深度范围

1．6 聚合物表面分析技术的要求

1．7 XPS简要历史

1．8 SIMS简要历史

第二章 X射线光电子谱

2．1 仪器结构

2．2 物理基础

第三章 聚合物的XPS信息

作者介绍：

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书籍介绍

本书深入论述了X射线光电子谱（XPS）和静态次级离子质谱（SSIMS）及其在聚合物材料研究中的应用。在聚合物表面的结构分析与特性研究，特别是解决工业研究中有关问题时，XPS和SSIMS普遍被认为是强有力的技术。随着过去十年仪器分析能力和数据阐释方面的飞速发展，该领域已经发展到有可能将这两方面的信息合并起来的阶段。本书中，作者叙述了XPS和SSIMS技术，并就各自可获得的住处类型分别作了解释。本书也

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  • 思想传递：8分

  • 知识深度：9分

  • 知识广度：4分

  • 实用性：6分

  • 章节划分：7分

  • 结构布局：7分

  • 新颖与独特：7分

  • 情感共鸣：9分

  • 引人入胜：3分

  • 现实相关：9分

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ISBN：9787502533977
出版社：暂无出版社
出版日期：2001-11
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